半導體測試設備領導供應商愛德萬測試(Advantest;TSE: 6857)發布HF-AWGD(高頻任意波形産生器與示波器)模組，進一步擴充EVA100測量平台的功能，將高解析、高速類比裝置的測試也納入其中。有了新模組加持，EVA100系統得以測量混合訊號、精密與標準類比半導體的所有關鍵參數。這些半導體廣泛應用于目前正高速成長的市場，包括車載電子。


同時配備高速、雙通道任意波形産生器與示波器的HF-AWGD模組，是包括16位元ADC與運算放大器等精密裝置在內，強而有力的分析工具。此模組在軟體方面採用直覺式設計，並擁有高速取樣技術，可選擇依照AWG模式(以波形檔案爲基礎)或波形産生器模式(不使用波形檔案)來産生波形。AWG系統 -102dB的超低諧波失真，能成就極致精準度。此外，其大容量波形記憶體可以大量取樣，而內建示的波器則涵蓋寬廣的輸入範圍，再加上高類比頻寬，可滿足不同精準度和高速轉換器、無線基頻裝置的測量需求。

愛德萬測試常務執行董事Satoru Nagumo表示：「我們的HF-AWGD模組進一步擴大已獲市場肯定之EVA100測量系統的功能範圍，不僅操作設定更簡便，除錯、驗證作業也更快速，有助加快産品上市時程。對于結合類比與數位功能于單一IC上的智慧型裝置來說，採用整合式設計並且性能領先業界的EVA100，是滿足廠商測量需求的首選。此類智慧型裝置目前在感測、行動通訊和電源管理等各類應用上都有廣大的市場。」

愛德萬測試EVA100系統無論是針對設計還是産品的測量作業都採用相同的測試序列，客戶因此得以在整個作業過程中建立標準化的測量環境。由于半導體製造商再也不需要耗費時間與資源統合來自不同系統的測試資料，故能大幅縮短産品上市的時間。此外，EVA100系統採用訴諸直覺的圖形化輔助使用者操作介面(GUI)，不需要複雜的程式語言。

HF-AWGD模組已獲愛德萬測試多個客戶實際採用，執行舉凡影像感測器、資料轉換器和其他裝置的測量作業。